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直冷型制冷-40℃ Chiller 半導體?溫控設備

簡要描述:【無錫冠亞】半導體控溫解決方案主要產品包括半導體專?溫控設備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設備,?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽能光伏等領域。直冷型制冷-40℃ Chiller 半導體?溫控設備

  • 產品型號:LTS-202
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2025-01-16
  • 訪  問  量:677
詳情介紹
品牌LNEYA/無錫冠亞冷卻方式水冷式
價格區間10萬-50萬產地類別國產
儀器種類一體式應用領域化工,生物產業,電子/電池,制藥/生物制藥,汽車及零部件



無錫冠亞恒溫制冷技術有限公司的半導體控溫解決方案

主要產品包括半導體專?溫控設備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設備,

?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽能光伏等領域。




【 冠亞制冷 】半導體行業主營控溫產品:

半導體專溫控設備

射流式?低溫沖擊測試機

半導體專用溫控設備chiller

Chiller氣體降溫控溫系統

Chiller直冷型

循環風控溫裝置

半導體?低溫測試設備

電?設備?溫低溫恒溫測試冷熱源

射流式高低溫沖擊測試機

快速溫變控溫卡盤

數據中心液冷解決方案


型號FLT-002FLT-003FLT-004FLT-006FLT-008FLT-010FLT-015
FLT-002WFLT-003WFLT-004WFLT-006WFLT-008WFLT-010WFLT-015W
溫度范圍5℃~40℃
控溫精度±0.1℃
流量控制  10~25L/min  5bar max15~45L/min  6bar max25~75L/min  6bar max
制冷量at10℃6kw8kw10kw15 kw20kw25kw40kw
內循環液容積4L5L6L8L10L12L20L
膨脹罐容積10L10L15L15L20L25L35L
制冷劑R410A
載冷劑硅油、氟化液、乙二醇水溶液、DI等  (DI溫度需要控制10℃以上)
進出接口ZG1/2ZG1/2ZG3/4ZG3/4ZG3/4ZG1ZG1
冷卻水口ZG1/2ZG1/2ZG3/4ZG1ZG1ZG1ZG1 1/8
冷卻水流量at20℃1.5m3/h2m3/h2.5m3/h4m3/h4.5m3/h5.6m3/h9m3/h
電源380V3.5kW4kW5.5kW7kW9.5kW12kW16kW
溫度擴展通過增加電加熱器,擴展-25℃~80℃





直冷型制冷-40℃ Chiller 半導體?溫控設備

直冷型制冷-40℃ Chiller 半導體?溫控設備


射流式高低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供精確且快速的環境溫度。

是對產品電性能測試、失效分析、可靠性評估的儀器設備。

溫度控制范圍:-120℃ 至+300℃,升降溫速率?常快速,150℃?-55℃<10秒,zui??流量:30m3/h;

實時監控被測IC真實溫度,實現閉環反饋,實時調整?體溫度升降溫時間可控,程序化操作、?動操作、遠程控制

測試條件:環境溫度20℃,30m3/h,5Bar,壓縮空?或氮?可定制100m3/h?體流量快速沖擊測試機,?于滿?較?測試功率需求


  沖擊系統快速溫變測試機是一種用于測試半導體器件在不同溫度下的性能表現,這種測試機通常被廣泛應用于半導體行業的生產、研發和品質控制等領域。

  一、沖擊系統快速溫變測試機的應用

  1、生產控制

  在半導體生產過程中,需要對半導體器件進行嚴格的測試,以確保其性能符合要求。沖擊系統快速溫變測試機可以模擬不同溫度環境,從而對生產出的半導體器件進行性能檢測。

  2、研發實驗

  在研發階段,沖擊系統快速溫變測試機可以幫助科研人員在不同溫度環境下研究半導體的性能表現,進一步探索半導體的物理特性和應用潛力。

  3、品質控制

  在品質控制環節,沖擊系統快速溫變測試機通過對半導體器件進行嚴格的質量檢測,確保產品的質量和可靠性。

  二、沖擊系統快速溫變測試機的優勢

  1、溫度范圍廣

  沖擊系統快速溫變測試機可以模擬從低溫度到高溫度的環境,為半導體器件的性能測試提供了廣闊的溫度范圍。

  2、測試精度高

  沖擊系統快速溫變測試機具有高精度的溫度控制和測試系統,能夠準確記錄和評估半導體器件在不同溫度下的性能數據。

  3、應用范圍廣

沖擊系統快速溫變測試機不僅適用于半導體器件的性能測試,還可以應用于其他材料和元器件的性能檢測。


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